智慧辨識產業服務研究中心    Intelligent Recognition Industry Service Research Center    展03

本次展出 

■

展出品牌

國立雲林科技大學  智慧辨識產業服務研究中心

■

展品資料

1. 應用於輪胎瑕疵檢測之影像前處理--融合深度影像及彩色影像之校正方法

2. 基於點雲資訊之隧道瑕疵檢測

3. 高光譜訊號之皮革瑕疵檢測

4. 記憶體模組產品外觀缺陷檢出技術

5. 薄膜電阻基板堆疊自動計數

基本資料

■

地址

64002 雲林縣斗六市大學路三段 123 號

■

業務聯絡人

■

電子信箱

劉憲仁

liuhsien@yuntech.edu.tw

■

電話

■

傳真

05-5342601 #2778

05-5372722

公司介紹

■

公司性質

AOI測試服務/技術顧問、AOI相關學術/研究機構

■

公司簡介

「智慧辨識產業服務研究中心」(英文簡稱：IRIS) 為教育部高教深耕計畫Global Taiwan特色領域研究中心，開發具前瞻智慧辨識關鍵技術，協助產業技術研發轉型與科技發展，以成為智慧辨識領域的標竿中心為目標。聚焦於產業自動化、健康照護、智慧生活三大產業，落實將智慧辨識技術導入產業，幫助產業解決問題，提升產業效益。

■

AOI主力產品

1. 應用於輪胎瑕疵檢測之影像前處理–融合深度影像及彩色影像之校正方法：
利用深度影像與視覺影像之融合校正方法，來得到視覺影像的紋理特性與深度影像物理性質，並利用多尺度分割演算法來尋找深度影像的細微特徵，進而準確地找出輪胎製品肉眼不易檢出之瑕疵點。
 
2. 基於點雲資訊之隧道瑕疵檢測：
利用雷射雷達所擷取的點雲資料進行檢測表面瑕疵的方法，應用於隧道漏水或一般建築物的表面瑕疵檢測，可減少現行以人力視覺的檢測方法，提高檢測正確率。
 
3. 高光譜訊號之皮革瑕疵檢測：
利用不同於傳統 RGB 影像的高光譜影像，不再是單純的依靠顏色與形狀來作為判斷依據，而是藉由不同的光譜訊號差異與使用開發的高光譜演算法來尋找不同的皮革表面瑕疵點。
 
4. 記憶體模組產品外觀缺陷檢出技術：
記憶體模組產品外觀缺陷檢測技術，是以深度學習網路架構進行 AI 模型的訓練，發展「瑕疵影像分類技術」的AI技術，瑕疵分類正確率達 99% 以上，漏檢率 1% 以下。有效解決傳統光學檢測設備誤判率太高、需要大量人工複檢的問題。

5. 薄膜電阻基板堆疊自動計數：
該技術以機器視覺來實現薄膜電阻基板數量量測。本系統主要特色在為利用多相機進行取像縫合，以便能在20cm的堆疊基板高度下，達到近100%的計數正確率，適用的單片基板厚度為0.18mm。此系統沒有任何的移動元件，因此無機台校正的問題。